京虹ADC/DACテストシステム
高性能アナログおよび混合信号テストソリューション
京虹ADC/DACテストシステムは、9スロットのATEチップテストプラットフォームで、モジュール化設計により柔軟性と拡張性を確保し、デジタルアナログおよびアナログデジタル変換チップの深層テストに特化しています。システムは、ADC/DAC全範囲の線形動的評価を含み、DIOクロック同期モジュールを搭載しており、8ビットから24ビットのADC/DACを最大400 MHzのサンプリングレートで測定することができ、効率的なチップテストの新しい基準を打ち立てます。
システムの利点
京虹ADC/DACテストシステムは、製品開発の加速とリソースの最適化に最適な選択肢です
- オールインワン、柔軟で効率的
京虹ADC/DACテストシステムは高度に統合された設計を採用しており、複数のテスト機能を一つに凝縮しています。この設計により、機器のインストールと使用プロセスが大幅に簡素化されました。簡便な配線設計により、ユーザーは複雑な配線の問題に直面することなく、迅速に導入することができます。また、このプラットフォームはモジュール化カスタマイズをサポートしており、ユーザーは具体的なニーズに応じてテストモジュールを自由に選択・組み合わせることができ、個別のテストソリューションを実現します。さらに、このシステムは多くのパラメータ調整機能を提供し、異なるユーザーの具体的なテスト要求に正確に対応できることを保証します。複数のテスト機能を一つのシステムに統合することにより、ユーザーは多様なテストを一台のシステムで実行でき、追加のテスト機器購入のコストや煩雑さを回避し、メンテナンスコストおよび全体的な運用費用を大幅に削減できます。
- 高速テスト、開発プロセスの加速
ユーザーは1週間以内で待測ボードの設計・製作を完了し、京虹ADC/DACテストプラットフォームと接続が可能です。従来の計測器やテスト方法を使用する場合、ユーザーは待測ボードと計測器の回路設計・構築に約3〜4週間を要し、さらに多台の計測器の連携制御には1〜2ヶ月の時間がかかることもあります。また、テスト実行用のソフトウェア開発の難易度も非常に高いです。一方、京虹のプラットフォームは、完全なテスト項目を直接提供し、ユーザーの研究開発テスト時間を大幅に節約し、効率は10倍以上向上します。
従来の機器と方法
テストの柔軟性が低く、準備する物資や機器が多く、
複数の機器は独立して制御し、その後連動させる必要があります
京虹ADC/DACテストシステム
テストボードの設計を大幅に簡素化し、
完全なテスト項目を提供
大幅简化测试板的设计,提供完整测试项
- 開封後すぐに使用でき、必要なものがそのまま手に入る
京虹ADC/DACテストシステムは、強力な管理システムを統合しており、ハードウェアリソースとテストフローを一元的に管理し、ユーザーは煩雑なソフトウェアとハードウェアの互換性問題から解放されます。基本的な静的テストから複雑な動的性能評価まで、プラットフォームはほぼすべての一般的なテスト項目を網羅しており、ユーザーは実際のニーズに応じて簡単に設定を行い、自動化テストフローをワンクリックで開始できます。この設計は、従来のテスト方法でユーザーが多種多様なハードウェア機器に対応するために手動でソフトウェアプラットフォームを構築する手間を排除し、操作の難易度と時間コストを大幅に削減します。
京虹ADC/DACテストシステムは、精密なキャリブレーション機構を内蔵しており、各テストが高い精度と信頼性を達成できるようにして、ユーザーに信頼できるテスト結果を提供します。プラットフォームの各テストモジュールは、データ収集を完了した後、先進的な付属ソフトウェアを通じて自動的に深い分析と処理を行い、ユーザーがデータの補正、集計、計算のために追加のプログラムを書く必要はありません。このようなインテリジェントなデータ処理能力により、重要なテスト結論を即座に出力でき、ユーザーは製品性能の核心的な指標を迅速に把握でき、後続の意思決定に対して強固なデータの支援を提供します。
豊富なテスト項目をサポート
京虹ADC/DACテストシステムは、広範なテスト項目を網羅した総合的なソリューションであり、高い基準を満たしています
ADC線形テスト
オフセット誤差;コード欠落分析
ゲイン誤差;トリガーポイント
フルスケール誤差
積分非線形誤差
差動非線形誤差
総誤差
DAC線形テスト
オフセット誤差
ゲイン誤差
フルスケール誤差
積分非線形誤差
差動非線形誤差
総誤差
ADCヒストグラムテスト
積分非線形誤差
差動非線形誤差
総誤差
トリガーポイント
コード欠落分析
動的テスト
信号対雑音歪み比
実効ビット数
信号対雑音比
総ひずみ歪み
無雑音ダイナミックレンジ
ピーク歪み
製品の特徴および仕様
ADC/DACテストシステムは、高性能、高精度、柔軟性を一体化したものです
ADC/DACテストシステムの製品特徴
JH-ATX7006Aは、ADC、DAC、その他のアナログ機能をテストするための完全統合型ソリューションです。非常に高い精度、低ノイズ、高速サンプリング、そして使いやすさといった多くの利点を兼ね備えています。
従来、デジタル-アナログ変換チップのテストは、複数の据え置き型計測器、フィルター、スイッチマトリックス、そしてユーザーがカスタマイズしたソフトウェアを使用して行われていました。ATX7006Aは、あらゆるデジタル-アナログ変換チップのテストに適した単一の計測器です。これにより、テスト設定の微調整ではなく、ADC/DACコンバータのテストそのものに集中することができます。
- 完全統合型ADC/DACチップテストプラットフォーム
- カスタマイズ可能なテストソリューション
- AWGのサンプリングレートは最大400 MHz
- 比類のない信号品質と精度
- 幅広いテスト項目への対応
- 柔軟な汎用デジタルIOモジュール
- 多様なビューを提供する内蔵解析ソフトウェア
- カスタムテストスクリプトの作成をサポート
ADC/DACテストシステム用ソフトウェア ATView
JH-ATX7006Aには、ATViewというソフトウェアパッケージが付属しています。これにより、TS-ATX7006Aの設定、プログラミング、制御、そしてテスト結果の解析が可能です。
- プロジェクト工程
- テスト分析
- Windows PCに対応
- 時域、周波数域、およびヒストグラムテストの結果を表示
テストの設定は、ダッシュボードにフィールドを入力し、必要に応じてデジタルモードをプログラムし、STARTボタンを押すだけで完了します。テスト後、結果はWaveAnalyzerで確認できます。WaveAnalyzerは、時域、周波数域、ヒストグラムテストの結果を表示でき、ズーム、スタック、カーソル機能がどのレベルでも使用可能です。テスト結果は、すべての設定を含めて保存できます。テスト結果とテスト条件はXML形式で保存され、ユーザーがさらに処理することができます。エクスポートファイル形式はCSV形式や画像として、レポートに簡単に取り込むことができます。
柔軟に構成可能な内部モジュール
デジタルオシロスコープ JH-WFDシリーズ(オプション)
かたばん | カテゴリー | 解像度 | サンプリングレート |
JH-WFD16 | デジタル化器モジュール | 16ビット | 180Msps |
JH-WFD20 | デジタル化器モジュール | 20ビット | 2Msps |
JH-WFD22 | デジタル化器モジュール | 22ビット | 1Msps |
任意波形発生器 JH-AWGシリーズ(オプション)
型番 | カテゴリー | 解像度 | こうしん そくど |
JH-AWG16 | 任意波形発生器モジュール | 16ビット | 400Msps |
JH-AWG18 | 任意波形発生器モジュール | 18ビット | 300Msps |
JH-AWG20 | 任意波形発生器モジュール | 20ビット | 2Msps |
JH-AWG22 | 任意波形発生器モジュール | 22ビット | 2Msps |
その他のオプションモジュール
型番 | カテゴリー | とくせい |
JH-DIOII | デジタルIOモジュール | 20/24本のデータビット、8本のパターンビット、クロック源をサポート |
JH-DRS20 | 基準源モジュール | ±10 V・10 mAのデュアルチャンネル基準源出力に対応 |
JH-DPS16 | 電源モジュール | ±12 V・200 mAのデュアルチャンネル基準源出力に対応 |